Карпов, Е. С.     Моделирование и прогнозирование показателей патентной активности России и развитых стран мира / Е. С. Карпов // Вопросы статистики : научно-информационный журнал. - 2013. - № 3. - С. 54-59 : граф. - Библиогр.: 15 назв. - Содержание: Многомерная линейная регрессия: моделирование показателя, характеризующего патентную активность страны ; Моделирование склонности компаний стран мира к проведению исследований на основе модели бинарного выбора ; Прогнозирование показателей патентной активности стран . - ISSN 0320-8168 Кл.слова (ненормированные): век 21, нач. -- век 21, 10-е гг. Дескрипторы: ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНАЯ СОБСТВЕННОСТЬ -- АВТОРСКОЕ ПРАВО -- ПАТЕНТЫ -- СТАТИСТИЧЕСКИЕ ДАННЫЕ -- КЛАССИФИКАЦИИ -- МОДЕЛИРОВАНИЕ -- ПРОГНОЗИРОВАНИЕ Все экземпляры списаны